Mua SN74BCT8373ANT với BYCHPS
Mua với đảm bảo
SN74BCT8373ANT
- Số Phần:
- SN74BCT8373ANT
- nhà chế tạo:
- Sự miêu tả:
- IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
- Tình trạng Miễn phí Tình trạng / Tình trạng RoHS:
- Không có chì / tuân thủ RoHS
- Số lượng có sẵn:
- 13933 Pieces
- Bảng dữliệu:
- SN74BCT8373ANT.pdf
Giới thiệu
BYCHIPS là nhà phân phối cho SN74BCT8373ANT, chúng tôi có các cổ phiếu cho vận chuyển ngay lập tức và cũng có sẵn để cung cấp thời gian dài. Vui lòng gửi cho chúng tôi gói mua hàng của bạn cho SN74BCT8373ANT qua email, chúng tôi sẽ cung cấp cho bạn một mức giá tốt nhất theo kế hoạch của bạn.
Thông số kỹ thuật
| Cung câp hiệu điện thê: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Gói thiết bị nhà cung cấp: | 24-PDIP |
| Loạt: | 74BCT |
| Bao bì: | Tube |
| Gói / Case: | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Vài cái tên khác: | 296-33848-5 SN74BCT8373ANT-ND SN74BCT8373ANTE4 SN74BCT8373ANTE4-ND |
| Nhiệt độ hoạt động: | 0°C ~ 70°C |
| Số Bits: | 8 |
| gắn Loại: | Through Hole |
| Mức độ nhạy ẩm (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Số phần của nhà sản xuất: | SN74BCT8373ANT |
| Loại logic: | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Mô tả mở rộng: | Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-PDIP |
| Sự miêu tả: | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
| Email: | [email protected] |
bộ phận liên quan cho SN74BCT8373ANT
| hình ảnh | Số Phần | Nhà sản xuất của | Sự miêu tả | Lượt xem |
|---|---|---|---|---|
|
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Tin nhắn của bạn |
|
SN74BCT8373ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Tin nhắn của bạn |
|
SN74BCT8373ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Tin nhắn của bạn |
|
SN74BCT8373ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Tin nhắn của bạn |
|
SN74BCT8374ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Tin nhắn của bạn |
|
SN74BCT8374ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74BCT8373ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Tin nhắn của bạn |
|
SN74BCT8374ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Tin nhắn của bạn |
|
SN74BCT8374ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74BCT8374ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Tin nhắn của bạn |
Latest Tin tức
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog