Mua SN74LVTH182502APMR với BYCHPS
Mua với đảm bảo
SN74LVTH182502APMR
- Số Phần:
- SN74LVTH182502APMR
- nhà chế tạo:
- Sự miêu tả:
- IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP
- Tình trạng Miễn phí Tình trạng / Tình trạng RoHS:
- Không có chì / tuân thủ RoHS
- Số lượng có sẵn:
- 18516 Pieces
- Bảng dữliệu:
- SN74LVTH182502APMR.pdf
Giới thiệu
BYCHIPS là nhà phân phối cho SN74LVTH182502APMR, chúng tôi có các cổ phiếu cho vận chuyển ngay lập tức và cũng có sẵn để cung cấp thời gian dài. Vui lòng gửi cho chúng tôi gói mua hàng của bạn cho SN74LVTH182502APMR qua email, chúng tôi sẽ cung cấp cho bạn một mức giá tốt nhất theo kế hoạch của bạn.
Thông số kỹ thuật
| Cung câp hiệu điện thê: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Gói thiết bị nhà cung cấp: | 64-LQFP (10x10) |
| Loạt: | 74LVTH |
| Bao bì: | Original-Reel® |
| Gói / Case: | 64-LQFP |
| Vài cái tên khác: | 296-29777-6 |
| Nhiệt độ hoạt động: | -40°C ~ 85°C |
| Số Bits: | 18 |
| gắn Loại: | Surface Mount |
| Mức độ nhạy ẩm (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Thời gian chuẩn của nhà sản xuất: | 6 Weeks |
| Số phần của nhà sản xuất: | SN74LVTH182502APMR |
| Loại logic: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Mô tả mở rộng: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| Sự miêu tả: | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP |
| Email: | [email protected] |
bộ phận liên quan cho SN74LVTH182502APMR
| hình ảnh | Số Phần | Nhà sản xuất của | Sự miêu tả | Lượt xem |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74LVTH18652APM | Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Tin nhắn của bạn |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | Tin nhắn của bạn |
Latest Tin tức
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog